2021-12-13

高压脉冲电源在MOS管老化测试中的应用

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半导体器件老化测试是在一定温度下,较长时间内对元器件连续施加一定的电应力,通过电热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理化学反应过程,促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露.传统的元器件mos管是硅材料,一般做简单的静态老化,对老化测试设备要求也不高,直流高压电源就可以完成,目前随着新型材料的兴起,比如新型材料氮化镓,这种材料高功率,高频率,对老化测试要求比较高,大连泰思曼的脉冲高压电源可以广泛的应用于新型材料MOS管漏电流的测试中。新型材料也是未来材料发展的趋势.随着新材料的发展,高压脉冲电源在这方面的应用也会越来越广.电源参数和测试框图如下:

mos-02.jpg

文章链接:http://www.teslamanhv.com/news/show-136.html