半导体测试电源的测试精度长期稳定性保持及自校准机制
半导体测试电源用于器件性能验证、特性曲线绘制及可靠性测试，对输出电压、电流精度与稳定性要求极高。长期运行中，受温漂、器件老化与负载波动影响，输出特性易发生微小偏移，从而影响测试数据的重复性。
为了保持长期稳定性，系统采用高精度基准电压源与多级温度补偿电路。电源输出经过数字控制DAC调节与高分辨率ADC监测构成双闭环系统，实时修正漂移误差。通过周期性比对内部参考信号与外部标准信号，可实现在线自校准。
自校准机制采用自动切换继电网络，将参考电路与输出电路短暂连接进行校验，控制系统根据差值调整增益系数与偏移参数。校准结果存储于非易失性存储器中，为长期数据一致性提供基础。
在系统算法层面，引入卡尔曼滤波与自适应漂移建模，对微小输出波动进行动态修正。为防止高频干扰引入测量误差，电源输出端采用低噪声隔离放大器与π型滤波结构。
该电源可在数千小时连续工作后仍保持微伏级输出精度偏差，为半导体测试设备提供高可靠、可溯源的电源基准，有效提升测试重复性与实验数据的可信度。
