多通道高压电源在测试设备的突破
随着半导体器件集成度与复杂度的不断提高，尤其是在存储器（Memory）、电源管理芯片（PMIC）和高性能计算芯片的自动化测试设备（ATE）领域，多通道高压电源的应用正迎来关键突破。测试设备需要同时对芯片上的数百甚至数千个管脚进行精确的电学激励和测量。多通道高压电源的核心价值在于其提供的高密度、高隔离度、高同步性的供电解决方案。突破的关键点在于如何在有限的体积内，实现极高的通道密度同时保证通道间极低的串扰。传统的做法是采用独立的模块化电源，但空间占用大、成本高。新一代多通道电源通过集成化的电源模块设计、精巧的电磁屏蔽和优化的地回路设计，将数十个甚至上百个独立可编程的高压通道集成在一个紧凑的机架单元中。通道间的隔离是另一个技术难点。在ATE应用中，一个通道的故障或高压瞬态不应影响到相邻通道的精确输出，这要求电源的内部结构和控制算法必须具备强大的故障隔离和自愈能力。在测试某些特殊器件（如耐高压的功率器件）时，需要多个通道在纳秒级或皮秒级精确同步的情况下进行电压或电流波形的输出与采集。这依赖于高精度时钟同步机制和先进的数字信号处理（DSP）控制单元。此外，测试设备的灵活性和可重构性要求多通道电源具备宽范围的电压和电流调节能力，以适应不同测试场景（如烧机测试、功能测试、参数测试）的需求。突破的最终成果表现为测试系统拥有了更高的吞吐量、更低的测试成本和更强大的故障诊断能力，使得复杂的系统级芯片（SoC）测试效率得到显著提升。
