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光耦耐压测试_半导体

光耦耐压测试

电流精度达100pA 小于10ms上升时间 小于50ms下降时间

对于光耦的耐压性能测试,使用高压电源,对光耦的输入和输出进行耐压测试。 确保测试电压在光耦的额定耐压范围内进行,以检查光耦是否能够在高电压环境下正常工作。